NI Labview Technologies

SIBCON-2017

International Siberian Conference on Control and Communications

	Participant
1	Kapitonov S. S. Report Метод подбора силовых полупроводниковых приборов для последовательных групповых цепей преобразователей Selection Method of Power Semiconductor Devices for Serial Group Circuits of Power Converters
2	Lysenkov A. Е. Report О влиянии технологического разброса значений параметров МДП-транзистора на тепловой режим About the influence of parameters values technological fluctuation on the power MOSFET thermal mode
3	Mozhaev R. K., Cherniak M. E., Pechenkin A. A., Ulanova A. V., Nikiforov A. J. Report Система измерения параметров оптоэлектронных приборов на основе PXI-платформы Automated measurement system for optoelectronic devices based on National Instruments PXI-platform
4	Rudenkov A. E. Report АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ СИСТЕМА ФУНКЦИОНАЛЬНОГО И ПАРАМЕТРИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ МИКРОСХЕМ СТАНДАРТА MIL-STD-1553. AUTOMATED MEASURING SYSTEM FOR MIL-STD-1553 INTEGRATED CIRCUITS FUNCTIONAL AND PARAMETRIC CONTROL.
5	Shvetsov-Shilovskiy I. И., Boruzdina A. Б., Ulanova A. В., Orlov A. А., Amburkin K. М., Nikiforov A. Ю. Report MEASUREMENT SYSTEM FOR TEST MEMORY CELLS BASED ON KEYSIGHT B1500A SEMICONDUCTOR DEVICE ANALYZER RUNNING LABVIEW SOFTWARE СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ТЕСТОВЫХ ЯЧЕЕК ПАМЯТИ НА ОСНОВЕ АНАЛИЗАТОРА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ KEYSIGHT B1500A ПОД УПРАВЛЕНИЕМ LABVIEW
6	Suranov A., Oshlakov V. Report ОСОБЕННОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДОВ С ПОМОЩЬЮ ИНТЕРФЕЙСА MYDAQ Peculiarities of Measuring the Semiconductor Diodes Current-voltage Characteristics using NI MYDAQ
7	Telyshev D. V., Pugovkin A. A. Report Автоматизированный педиатрический стенд имитации работы сердечно-сосудистой системы для испытаний педиатрических систем вспомогательного кровообращения Automated Pediatric Cardiovascular Simulator for Left Ventricular Assist Device Evaluation