Технологии NI Labview

SIBCON-2017

Международная IEEE Сибирская конференция по управлению и связи

	Участник
1	Капитонов С. С. Доклад Метод подбора силовых полупроводниковых приборов для последовательных групповых цепей преобразователей Selection Method of Power Semiconductor Devices for Serial Group Circuits of Power Converters
2	Лысенков А. Е. Доклад О влиянии технологического разброса значений параметров МДП-транзистора на тепловой режим About the influence of parameters values technological fluctuation on the power MOSFET thermal mode
3	Можаев Р. К., Черняк М. Е., Печенкин А. А., Уланова А. В., Никифоров А. Ю. Доклад Система измерения параметров оптоэлектронных приборов на основе PXI-платформы Automated measurement system for optoelectronic devices based on National Instruments PXI-platform
4	Руденков А. Е. Доклад АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ СИСТЕМА ФУНКЦИОНАЛЬНОГО И ПАРАМЕТРИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ МИКРОСХЕМ СТАНДАРТА MIL-STD-1553. AUTOMATED MEASURING SYSTEM FOR MIL-STD-1553 INTEGRATED CIRCUITS FUNCTIONAL AND PARAMETRIC CONTROL.
5	Суранов А., Ошлаков В. Доклад ОСОБЕННОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДОВ С ПОМОЩЬЮ ИНТЕРФЕЙСА MYDAQ Peculiarities of Measuring the Semiconductor Diodes Current-voltage Characteristics using NI MYDAQ
6	Телышев Д. В., Пуговкин А. А. Доклад Автоматизированный педиатрический стенд имитации работы сердечно-сосудистой системы для испытаний педиатрических систем вспомогательного кровообращения Automated Pediatric Cardiovascular Simulator for Left Ventricular Assist Device Evaluation
7	Швецов-Шиловский И. И., Боруздина А. Б., Уланова А. В., Орлов А. А., Амбуркин К. М., Никифоров А. Ю. Доклад MEASUREMENT SYSTEM FOR TEST MEMORY CELLS BASED ON KEYSIGHT B1500A SEMICONDUCTOR DEVICE ANALYZER RUNNING LABVIEW SOFTWARE СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ТЕСТОВЫХ ЯЧЕЕК ПАМЯТИ НА ОСНОВЕ АНАЛИЗАТОРА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ KEYSIGHT B1500A ПОД УПРАВЛЕНИЕМ LABVIEW