National Instruments' Technologies for Education, Science and Industry

INTERNATIONAL SIBERIAN CONFERENCE ON CONTROL AND COMMUNICATIONS (SIBCON-2015)

National Instruments' Technologies for Education, Science and Industry

	Participant
1	Andreeva L. G. Report Исследование электромагнитных процессов и характеристик систем с незамкнутым магнитопроводом The Study of electromagnetic proccesses and characteristics systems with open magnetic core
2	Aristova N. E., Borisov A. Y., Tararaksin A. S., Kessarinskiy L. N., Yanenko A. V. Report АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКС КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ МОЩНЫХ n- и p-МОП ТРАНЗИСТОРОВ AUTOMATIC TEST COMPLEX FOR PARAMETRIC CONTROL OF POWER NMOS AND PMOS TRANSISTORS
3	Aristova N. E., Tararaksin A. S., Kessarinskiy L. N., Borisov A. Y., Nikiforov A. Y. Report АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКС КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ СУПЕРВИЗОРОВ ПИТАНИЯ AUTOMATED TEST SYSTEM FOR PARAMETRIC CONTROL OF VOLTAGE SUPERVISORS
4	Belova M. P., Pechenkina D. V., Borisov A. Y., kessarinskiy L. N., Boychenko D. V. Report АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ СТАБИЛИЗАТОРОВ НАПРЯЖЕНИЯ и DC/DC-КОНВЕРТЕРОВ AUTOMATED TEST COMPLEX FOR PARAMETRIC AND FUNCTIONAL CONTROL OF VOLTAGE REGULATORS AND DC-DC CONVERTERS
5	Bespalov N. N., Ilyin M. V., Kapitonov S. S., Lysenkov A. E. Report Программа моделирования переходного процесса выключения силовых полупроводниковых приборов Program for modeling transient off of power semiconductor devices
6	Bespalov N. N., Ilyin M. М., Kapitonov S. S. Report Аппаратура для тестирования и диагностики силовых полупроводниковых приборов Equipment for testing and diagnostics of power semiconductor devices
7	Bespalov N. N., Lysenkov A. E., Ilyin M. V., Kapitonov S. S. Report Программный модуль для подбора мощных МДП-транзисторов по электротепловым параметрам при формировании групповых соединений MOSFETs selection software to form parallel and series connections
8	Bespalov N. N., Lysenkov A. E., Ilyin M. V., Kapitonov S. S. Report ПРОГРАММНЫЙ МОДУЛЬ ДЛЯ ПОДБОРА МОЩНЫХ МДП-ТРАНЗИСТОРОВ ПО ЭЛЕКТРОТЕПЛОВЫМ ПАРАМЕТРАМ ПРИ ФОРМИРОВАНИИ ГРУППОВЫХ СОЕДИНЕНИЙ MOSFETs selection software to form parallel and series connections
9	Borisov S. V., Vyboldin Y. K., Gomonova A. I. Report Помехоустойчивость передачи радиосигналов с КАМ в каналах с замираниями Noise immunity of transmitting QAM - radio signals in channels with fading
10	Boruzdina A. B., Orlov A. A., Ulanova A. V., Grigor'ev N. G., Nikiforov A. Y. Report AUTOMATIC CONTROL SYSTEM FOR MEMORY CHIPS PERFORMANCE IN A RADIATION EXPERIMENT АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ СИСТЕМА КОНТРОЛЯ ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ МИКРОСХЕМ ПАМЯТИ ПРИ ПРОВЕДЕНИИ РАДИАЦИОННОГО ЭКСПЕРИМЕНТА
11	Demidova A. V., Borisov A. Y., Kessarinskiy L. N., Boychenko D. V. Report АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКС КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ И ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ ИС ОПЕРАЦИОННОГО УСИЛИТЕЛЯ AUTOMATED TEST COMPLEX FOR OPERATIONAL AMPLIFIER ICs PARAMETRIC AND FUNCTIONING MONITORING
12	Fisochenko O. N., Berestneva O. G., Marukhina O. V., Romanchukov S. V. Report Information technology - assessment of competence of technical university students Информационные технологии - оценка компетентности студентов технических университетов
13	Kessarinskiy L. N., Davydov G. G., Kolosova A. S., Boychenko D. V. Report THE AUTOMATED TEST SYSTEM FOR PARAMETRIC AND FUNCTIONAL CONTROL OF THE MODERN TRANSCEIVER IC’s АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКС КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ И ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ МИКРОСХЕМ ПРИЕМОПЕРЕДАТЧИКОВ
14	Khairetdinov M. S., Voskoboynikova G. M. Report The numerical modeling of a posteriori algorithms for the processing of a random wave impulse sequences The numerical modeling of a posteriori algorithms for the processing of a random wave impulse sequences
15	Kuznetsov A. A. Report Управление трехфазным DDS генератором на стендах NI ELVIS THREE PHASE DDS GENERATOR CONTROL AT THE NI ELVIS STANDS
16	Loskutov I. O., Karakozov A. B., Nekrasov P. V., Nikoforov A. Y. Report Автоматизированный комплекс для функционального и параметрического контроля микроконтроллера 1880ВЕ51 AUTOMATED RADIATION TEST SETUP FOR FUNCTIONAL AND PARAMETRICAL CONTROL OF 8-BIT MICROCONTROLLERS
17	Marfin V. A., Nekrasov P. V., Kalashnikov O. A., Kagirina K. A. Report ИСПОЛЬЗОВАНИЕ МОДУЛЯ БЫСТРОГО ВВОДА/ВЫВОДА NI PXI-7841R ДЛЯ ПРОВЕДЕНИЯ ФУНКЦИОНАЛЬНОГО КОНТРОЛЯ РАБОТОСПОСОБНОСТИ СБИС МИКРОПРОЦЕССОРОВ USING MODULES NI PXI-7841R RAPID I/O MODULEFOR THE FUNCTIONAL CONTROL OF THE MICROPROCESSORS
18	Mashkov G. M., Borisov E. G., Gomonova A. I. Report Многопозиционная радионавигационная система с комплексированием информации Multilateration radar system with data aggregation
19	Ovcharuk V. N. Report Исследовательский аппаратно-программный комплекс для изучения свойств материалов и изделий методом акустической эмиссии Research hardware and software package for studying the proherties of materials and products using acoustic emission
20	Popov V. S., Cengiz H. -., Rumyantseva E. I. Report Получение данных люксметра CEM DT-1309 в LabVIEW Light Meter CEM DT-1309 Data Acquisition with LabVIEW
21	Shvetsov-Shilovskiy I. I., Nekrasov P. V., Ulanova A. V., Smolin A. A., Sogoyan A. V. Report АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ СИСТЕМАИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК КМОП КНИ ТРАНЗИСТОРНЫХ ТЕСТОВЫХ СТРУКТУР Automated I-V Measurement System for CMOS SOI Transistor Test Structures
22	Tararaksin A. S., Savchenkov D. V., Novikov A. A., Borisov A. Y., Kessarinskiy L. N. Report АППАРАТНО-ПРОГРАММНЫЕ СРЕДСТВА ДЛЯ УПРАВЛЕНИЯ ИСТОЧНИКАМИ ПИТАНИЯ ПРИ ИСПЫТАНИЯХ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ НА СТОЙКОСТЬ К ВОЗДЕЙСТВИЮ ТЗЧ С ИСПОЛЬЗОВНАИЕМ ЛАЗЕРНЫХ ИСПЫТАТЕЛЬНЫХ УСТАНОВОК POWER CONTROL AND SUPPLY CURRENT MONITORING IN LASER SINGLE-EVENT EFFECT TESTING
23	Uvaysov S. U., Ivanov I. A., Ivanov O. A. Report Система электропитания элементов беспроводной сенсорной сети Power supply system for wireless sensor network
24	Vidmanov D. A., Rumyantseva3 E. I., Petrosyan O. G. Report SIMULATION OF STOCHASTIC RESONANCE EFFECT IN LABVIEW Моделирование стохастического резонанса в среде LabVIEW
25	karakozov A. B., Nekrasov P. V., Bobrovskiy D. V., Marfin V. A. Report УСОВЕРШЕНСТВОВАННЫЙ ПРОГРАММНО АППАРАТНЫЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ТИРИСТОРНЫХ ЭФФЕКТОВ И ОДИНОЧНЫХ СБОЕВ МИКРОСХЕМ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ТЯЖЕЛЫХ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ ADVANCED HARDWARE-SOFTWARE COMPLEX FOR SINGLE EVENT EFFECTS TESTING IN INTEGRATED CIRCUITS UNDER HEAVY CHARGED PARTICLES EXPOSION
26	Доценко О. А., Жуков А. А., Кочеткова Т. Д., Новиков С. С., Павлова А. А. Report The computer laboratory practical works “The Bases of Electronics”